iEDX-150T鍍層測厚儀

應用領域

 iEDX-150T鍍層測厚儀應用於金屬電鍍鍍層分析領域；

技術指標

多鍍層分析，1～5層；

測試精度：0.001 μm；

元素分析範圍從鋁(Al)到鈾(U)；

測量時間：10~30秒；

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；

6個準直器及多個濾光片自動切換；

 XYZ三維移動平台，MAX荷載為5公斤；

 高清CCD攝像頭（200萬像素），準確監控位置；

多變量非線性去卷積曲線擬合；

高性能FP/MLSQ分析；

儀器尺寸：618×525×490mm；

樣品台尺寸：250×220mm；

樣品台移動範圍：前後左右各80mm、高度90mm。

圖譜界麵

軟件支持無標樣分析；

寬大分析平台和樣品腔；

集成了鍍層分析界麵和合金成份分析界麵；

采用多種光譜擬合分析處理技術；

鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。

分析報告結果

直接打印分析報告；
報告可轉換為PDF，EXCEL格式。

樣品分析圖譜：

測試結果界麵：